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基于全局敏感度分析的高光谱反射率数据光谱特征提取方法
专利权人:
北京航空航天大学
发明人:
赵峰,郭一庆
申请号:
CN201410025983.4
公开号:
CN103714341A
申请日:
2014.01.21
申请国别(地区):
中国
年份:
2014
代理人:
摘要:
基于全局敏感度分析的高光谱反射率数据光谱特征提取方法,其步骤为:①敏感度分析:使用全局敏感度分析方法计算高光谱反射率数据各波段位置处的敏感度;②特征波段选择:根据敏感度分析的结果选择特征波段;③正则变换:使用正则变换方法计算类别可分性最大时的特征向量;④光谱特征构建:使用特征波段反射率值与特征向量对应元素值的线性组合构建第一正则轴,作为光谱特征。相比于传统的高光谱反射率数据光谱特征提取方法,本发明所提出的方法构建的光谱特征可以在降低数据维度的同时使不同类别的可分性达到最大,特别适用于农作物胁迫检测、目标识别和地物分类等遥感应用问题,在高光谱反射率数据处理与应用技术领域拥有广阔前景。
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/
相关发明人
赵峰
郭一庆
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