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VERFAHREN UND VORRICHTUNG ZUR DETEKTION UND LOKALISIERUNG VON MIKROSTIMULIERTEN PARTIKELN
专利权人:
TECHNISCHE UNIVERSITÄT ILMENAU
发明人:
HEIN, Matthias, A.,HEIN, Matthias, A.,STEPHAN, Ralf,STEPHAN, Ralf
申请号:
EPEP2016/050265
公开号:
WO2016/128153A1
申请日:
2016.01.08
申请国别(地区):
WO
年份:
2016
代理人:
摘要:
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Detektion und Lokalisierung von Partikeln mittels elektromagnetischer Wellen. Dazu werden folgende Schritte ausgeführt: Auswahl von Partikeln (01) mit vorbestimmten magnetischen oder thermischen Eigenschaften, die eine MikroStimulation ermöglichen Einbringen der Partikel (01) in ein Untersuchungsobjekt Aussenden elektromagnetischer Wellen (07) zum Untersuchungsobjekt (02, 03) und Empfangen eines zurückgestreuten Signals (08). Erfindungsgemäß wird eine zeitlich veränderliche äußere Kraft in das Untersuchungsobjekt eingeprägt, wobei diese Kraft so ausgewählt ist, dass sie aufgrund der vorbestimmten Eigenschaften der Partikel (01) ebendiese magnetisch oder thermisch mikro-stimuliert. Das zurückgestreute Signal (08) wird ausgewertet durch Korrelation des Zeitverlaufes des zurückgestreuten Signals (08) und der Änderung der äußeren Kraft über die Zeit. Die Erfindung betrifft auch eine Vorrichtung zur Detektion und Lokalisierung von in einem Untersuchungsobjekt (02, 03) enthaltenen Partikeln (01).The invention relates to a method for detecting and localizing particles by means of electromagnetic waves. To this end, the following steps are carried out: selecting particles (01) with predetermined magnetic or thermal properties which enable a micro-stimulation introducing the particles (01) into an examination object transmitting electromagnetic waves (07) to the examination object (02, 03) and receiving a backscattered signal (08). According to the invention, a time-varying external force is impressed upon the examination object, wherein this force is selected in such a way that it magnetically or thermally micro-stimulates the particles (01) on account of the predetermined properties of the latter. The backscattered signal (08) is evaluated by correlating the time profile of the backscattered signal (08) and the change in the external force over time. The invention also relates to a device for detecting and localizing particles (01)
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/
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