用定量超声参数映射的一阶和二阶统计来分类和表征组织的系统和方法
- 专利权人:
- 森尼布鲁克研究所
- 发明人:
- A·萨德吉-奈尼,H·塔达扬,G·J·恰尔诺塔,O·法露
- 申请号：
- CN201480029807.6
- 公开号：
- CN105377145B
- 申请日:
- 2014.23.05
- 申请国别(地区):
- CN
- 年份:
- 2019
- 代理人:
- 摘要：
- 用定量超声技术来分类组织的系统和方法。从在超声扫描期间从感兴趣区域中获取的原始回波信号数据中直接计算参数并且使用这些参数来产生参数映射。在使用参考数据归一化该回波信号数据之后计算这些参数以减少仪器设置中的变化、超声波束衍射和衰减效应的影响。一阶和二阶统计度量是从这些参数映射中计算出的,并且被用于分类感兴趣区域中的组织或多种组织。使用这些系统和方法,可以利用不同的分类等级来分类组织。例如,表征为恶性癌的组织可被附加地分级(例如,等级I,II或III)。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
