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IMAGERIE À CONTRASTE DE PHASE DIFFÉRENTIEL À DOUBLE ÉNERGIE
专利权人:
Koninklijke Philips N.V.
发明人:
申请号:
EP16757248.6
公开号:
EP3310259A1
申请日:
2016.08.26
申请国别(地区):
EP
年份:
2018
代理人:
摘要:
A grating based interferometric X-ray imaging apparatus having an interferometer (IF). The interferometer comprises at least one grating (G1). The grating (G1) is tiltable relative to an optical axis of the X-ray imaging apparatus. This allows changing a design energy of the X-ray imaging apparatus.La présente invention concerne un appareil d'imagerie à rayons X interférométrique utilisant un réseau, ledit appareil comportant un interféromètre (IF). L'interféromètre comprend au moins un réseau (G1). Le réseau (G1) est inclinable par rapport à un axe optique de l'appareil d'imagerie à rayons X. Ceci permet de modifier une énergie de conception de l'appareil d'imagerie à rayons X.
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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