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異質部分を含む実質的に均一な対象の電気的特性画像を作成する方法および装置
专利权人:
ウィシス テクノロジー フォンデーション インコーポレイテッド
发明人:
グレゴリー, クリストファー ウィリアム,グレゴリー, ウィリアム ディー.
申请号:
JP2004551717
公开号:
JP5033307B2
申请日:
2003.11.05
申请国别(地区):
JP
年份:
2012
代理人:
摘要:
METHOD electrical parameters and the imaging apparatus, includes obtaining a charge distribution pattern electrode array surrounding the object to be imaged. Furthermore, the target, the outer surface boundaries, ie, the contour is determined by an array of light sensors and associated light beam. Evaluation value of the initial geometry of the object to be required from the charge distribution pattern with the contour measurement, obtained, to calculate the electrical parameter image is provided.電気的パラメータイメージング装置および方法は、イメージングされる対象を囲む電極アレイ上で電荷分布パターンを取得することを含む。さらに、対象の、外面境界、すなわち、輪郭が、光ビームおよび関連する光センサのアレイによって測定される。輪郭測定を使用して、取得された電荷分布パターンから、電気的パラメータ画像を計算するのに必要とされる対象の幾何形状の最初の評価値が提供される。
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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