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인지기능 검사 장치 및 방법
专利权人:
SAMSUNG ELECTRONICS CO.; LTD.
发明人:
LEE, Ho-Sub,이호섭
申请号:
KRKR2014/006087
公开号:
WO2016/006727A1
申请日:
2014.07.08
申请国别(地区):
WO
年份:
2016
代理人:
摘要:
The present invention relates to a cognitive function test device and method, and the cognitive function test device, according to one aspect, can comprise: a content information generation unit for generating content information related to content used by a user a question and answer data generation unit for generating at least one piece of question and answer data related to the content on the basis of the content information and a question and answer execution unit for presenting, to the user, a question related to the content on the basis of the question and answer data, and evaluating the users answer to the presented question.La présente invention concerne un dispositif et un procédé dessai de fonction cognitive, et le dispositif dessai de fonction cognitive, selon un aspect, peut comprendre : une unité de génération dinformations de contenu pour générer des informations de contenu en lien avec un contenu utilisé par un utilisateur une unité de génération de données de question et de réponse pour générer au moins un élément de données de question et de réponse en lien avec le contenu, sur la base des informations de contenu et une unité dexécution de question et de réponse pour présenter, à lutilisateur, une question relative au contenu, sur la base des données de question et de réponse, et évaluer la réponse de lutilisateur à la question présentée.인지기능 검사 장치 및 방법에 관한 것으로, 일 양상에 따른 인지기능 검사 장치는 사용자가 이용한 콘텐츠와 관련된 콘텐츠 정보를 생성하는 콘텐츠 정보 생성부, 상기 콘텐츠 정보에 기초하여 상기 콘텐츠와 관련된 적어도 하나의 질의응답 데이터를 생성하는 질의응답 데이터 생성부 및 상기 질의응답 데이터에 기초하여, 상기 콘텐츠와 관련된 질문을 상기 사용자에게 제시하고, 상기 제시된 질문에 대한 상기 사용자의 응답을 평가하는 질의응답 실행부를 포함할 수 있다.
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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