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Method for measuring shape of thick multi-planar reformatted (MPR) digital image, involves calculating desired measurement value from accumulated samples, after connecting rays from starting to terminal points
专利权人:
Siemens Corp.
发明人:
YANG, LINING,Lining Yang
申请号:
DE102011115236
公开号:
DE102011115236A1
申请日:
2011.09.28
申请国别(地区):
DE
年份:
2012
代理人:
摘要:
Verfahren zum Messen von Formen in dicken digitalen multiplanaren reformatierten (MPR-)Bildern, enthaltend Erkennen (11) einer Form in einem digitalen MPR-Bild, Abtast-Umwandeln (12) von Punkten, die der erkannten Form auf einer Startebene einer MPR-Scheibe in einem Bildvolumen entsprechen, aus dem die MPR erhalten wurde, um eine Vielzahl von Startpunkten für die erkannte Form zu erzeugen, Berechnen (13) eines Endpunkts in der MPR-Scheibe, der dem jeweiligen Startpunkt entspricht, Ausbreiten (14) eines Strahls von jedem Startpunkt zu jedem entsprechenden Endpunkt, Akkumulieren (15) von Abtastungen entlang jedem Strahl und Berechnen (18) eines gewünschten Messwerts aus den akkumulierten Abtastungen nach Erreichen des Endpunkts für alle Strahlen (17).The method involves recognizing (11) the shape of an MPR digital image. The points of detected form on starting level of MPR disk are scanned (12) to obtain starting points for generating recognized shape. A terminal point in MPR disk is calculated (13) corresponding to each starting point. A ray is propagated (14) from each starting point to each appropriate terminal point. The samples along each ray are accumulated (15) and desired measurement value from accumulated samples is calculated (18), after attaining of rays at the terminal point. An independent claim is included for machine-readable program memory device for measuring shape of thick MPR digital image.
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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