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用于发射成像设备的检测器和发射成像设备
专利权人:
许剑锋
发明人:
石涵,许剑锋
申请号:
CN201310503010.2
公开号:
CN103543463B
申请日:
2013.10.23
申请国别(地区):
CN
年份:
2015
代理人:
摘要:
本发明提供一种用于发射成像设备的检测器和发射成像设备。所述检测器包括:晶体层,所述晶体层包括多个闪烁晶体,所述多个闪烁晶体排列成正五边形或正六边形;以及光传感器层,所述光传感器层覆盖所述晶体层并与所述晶体层间隔开地设置,所述光传感器层包括多个光传感器,所述多个光传感器排列成与所述晶体层相同的形状。安装有本发明提供的检测器的发射成像设备能够具有较高的灵敏度和检测效率。
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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