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一种双轴汇聚双探测偏振光电自准直仪
专利权人:
四川云盾光电科技有限公司
发明人:
姜世平,曹志明,张宜文,胡玲
申请号:
CN201420775524.3
公开号:
CN204240961U
申请日:
2014.12.11
申请国别(地区):
中国
年份:
2015
代理人:
林辉轮`王芸
摘要:
本实用新型涉及光学测量领域,具体指一种双轴汇聚双探测偏振光电自准直仪,包括第一光源、第二光源、第一分划板、第二分划板、第一光源汇集透镜、第二光源汇聚透镜、第一分光棱镜、第二分光棱镜、第三分光棱镜、1/4波片、准直透镜、第一PSD探测器和第二PSD探测器。采用汇聚透镜和偏振片,减少了光能损失;采用PSD探测器,分辨率高;采用双光源双探测的方式,相当于在一个自准直仪上实现了4次检测的功能,提高了系统的分辨能力和反应能力,结构简单,测量精度更高,可广泛应用于日常生活、工业生产、航空航天、船舶和军工领域的准直测量中。
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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