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用于确定磁共振技术中特定于对象的B1分布的方法
- 专利权人:
- 西门子公司
- 发明人:
- M.凯勒,T.斯佩克纳
- 申请号：
- CN201310186326.3
- 公开号：
- CN103454606B
- 申请日:
- 2013.05.20
- 申请国别(地区):
- CN
- 年份:
- 2017
- 代理人:
- 摘要：
- 一种用于确定磁共振技术中在测量空间内检查对象的特定于对象的B1分布的按照本发明的方法，包括步骤：‑在使用第一脉冲序列的条件下测量检查对象的第一测量数据组，‑在使用第二脉冲序列的条件下测量检查对象的第二测量数据组，‑在使用第三脉冲序列的条件下测量检查对象的第三测量数据组，‑从第一测量数据组中确定第一相位，从第二测量数据组中确定第二相位并且从第三测量数据组中确定第三相位，‑从第一相位和第二相位和第三相位中计算相关的相移，‑从计算的相关的相移中确定B1分布。通过测量第一、第二和第三相位可以避免通过共振偏移影响对于B1分布的确定。此外要求保护一种磁共振设备、计算机程序以及电子可读数据载体。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
- 来源网址：
- http://www.ckcest.cn/home/
