Die Erfindung betrifft ein Freistrahl-Interferometrie-Verfahren zum Ablichten einer Sequenz von Schnittflächen im Innern eines Licht streuenden Objekts. Das Verfahren ermöglicht dem Nutzer die Wahl eines größeren Bildfeldes und/oder einer höheren Bildauflösung als bislang möglich beim Auftreten von Selbstinterferenz des Probenlichts aus einer streuenden Probe.The invention relates to a free-beam interferometry method for photocopying a sequence of cut surfaces inside a light-scattering object. The method allows the user to select a larger image field and/or a higher image resolution than possible until now during the occurrence of self-interference of the sample light from a scattering sample.L'invention concerne un procédé d'interférométrie à jet libre destiné à illuminer une séquence de surfaces de coupe à l'intérieur d'un objet diffusant la lumière. Le procédé permet à l'utilisateur de choisir un champ d'image plus grand et/ou une résolution d'image plus élevée que ce qui était possible jusqu'à présent en cas d'auto-interférence de la lumière provenant d'un échantillon diffusé.
