基于脉冲激光辐照的半透明介质辐射特性测量方法
- 专利权人:
- 哈尔滨工业大学
- 发明人:
- 齐宏,牛春洋,任亚涛,阮立明
- 申请号：
- CN201310455615.9
- 公开号：
- CN103472036B
- 申请日:
- 2013.09.29
- 申请国别(地区):
- 中国
- 年份:
- 2015
- 代理人:
- 岳泉清
- 摘要：
- 基于脉冲激光辐照的半透明介质辐射特性测量方法，本发明涉及基于脉冲激光辐照的半透明介质辐射特性测量方法。它为了解决现有的基于透射、反射辐射信号测量的半透明介质辐射参数测量方法中测量方法复杂、速度慢、准确性差的问题。本发明通过将激光光源照射在待测半透明介质制的一侧表面，待测半透明介质制两侧均匀涂敷黑体涂层，均涂敷有黑体涂层的半透明介质的一侧表面，采用热电偶测温仪测量并记录介质两表面温度随时间的变化。根据两表面随时间变化的温度，通过逆问题算法获得待测半透明介质的吸收系数和散射系数。本发明适用于航空航天、军事、能源、化工、生物医疗及大气科学等多个领域。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
