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Verfahren zur Reduktion der verwendeten Strahlendosis im Rahmen einer bildgebenden Röntgenuntersuchung und CT-System
专利权人:
Siemens Aktiengesellschaft
发明人:
Rainer, Dr. Raupach,Herbert, Dr. Bruder,Thomas, Dr. Flohr
申请号:
DE102010043975
公开号:
DE102010043975A1
申请日:
2010.11.16
申请国别(地区):
DE
年份:
2012
代理人:
摘要:
Die Erfindung betrifft ein Verfahren und ein Röntgensystem, insbesondere ein CT-System (C1), wobei zur Reduktion der verwendeten Strahlendosis im Rahmen einer bildgebenden Röntgenuntersuchung zu jedem Pixel eines aufgenommenen Bildes Strukturinformationen einer gegebenenfalls vorhandenen Struktur in einer vorgegebenen Entfernung um das untersuchte Pixel bestimmt werden und auf das jeweils untersuchte Pixel ein richtungsabhängiges Tiefpassfilter angewendet wird, dessen räumliche Reichweite kleiner ist als die vorgegebene Entfernung und das die morphologische Information einer gegebenenfalls vorhandenen Struktur mit einer richtungsabhängigen Wichtung des Tiefpassfilters berücksichtigt.The invention relates to a method and an x-ray system, in particular a ct - a system (c1), wherein for the reduction of the radiation dose in the context of an imaging x-ray examination to each pixel of a recorded image pattern information of a possibly present structure in a predetermined distance in order to the pixels are determined and, on the respective pixel investigated a direction-dependent low-pass filter is used, its spatial range is smaller than the predetermined distance, and the morphological information of a possibly present structure with a direction-dependent weighting of the low-pass filter is taken into account.
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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