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一种X染色体高密度探针定制的全基因组拷贝数检测芯片
专利权人:
陈晓丽
发明人:
陈晓丽
申请号:
CN201610685090.1
公开号:
CN106282349A
申请日:
2016.08.18
申请国别(地区):
中国
年份:
2017
代理人:
王冲
摘要:
本发明提供一种针对精神发育障碍患者的X染色体高密度探针定制的全基因组拷贝数检测芯片,能够高密度检测X染色体上的与精神发育障碍相关的基因。本发明的基因芯片灵敏度高,特异性和可靠性高,可科学用于筛查精神发育障碍患儿的遗传病因,为临床不明原因精神发育障碍儿童,特别是男童提供基因诊断,从而提高该病的诊断率,为该病的预后及遗传咨询提供可靠信息。
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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