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METHODS FOR PROFILING SURFACE TOPOGRAPHIES OF ABSORBENT STRUCTURES IN ABSORBENT ARTICLES
专利权人:
THE PROCTER & GAMBLE COMPANY
发明人:
VARGA, Stephen, Michael,VAN DER KLUGT, Walter, Pieter Hendrik Laurentius,GABER, Rene
申请号:
USUS2015/017426
公开号:
WO2015/130733A1
申请日:
2015.02.25
申请国别(地区):
WO
年份:
2015
代理人:
摘要:
The present disclosure relates to methods and apparatuses for sensing distortions in patterns of reflected light to create profiles representing surface topographies of absorbent structures during the manufacture of absorbent articles. Inspection systems may include sensors arranged adjacent an advancing absorbent structure on a converting line. In turn, a controller may monitor and affect various operations on the converting line. The inspection systems herein may also include a radiation source that illuminates a surface of an absorbent structure with a predetermined pattern of light extending in the cross direction CD. The sensor senses distortions in patterns of light reflected from the illuminated surface of the absorbent structure and triangulates changes in elevation of the illuminated surface of the absorbent structure relative to the sensor. Based on the triangulated changes in elevation, the sensor creates a profile representing a surface topography of the illuminated surface of the absorbent structure.Linvention concerne des procédés et des appareils permettant de détecter des déformations dans des motifs de lumière réfléchie pour créer des profils représentant des topographies de surface de structures absorbantes pendant la fabrication darticles absorbants. Des systèmes de contrôle peuvent comprendre des capteurs disposés de manière adjacente à une structure absorbante avançant sur une chaîne de transformation. À son tour, un dispositif de commande peut surveiller et affecter différentes opérations sur la chaîne transformation. Les systèmes de contrôle de linvention peuvent également comprendre une source de rayonnement qui éclaire la surface de la structure absorbante avec un motif prédéterminé de lumière évoluant dans le sens transversal. Le capteur détecte les déformations dans des motifs de lumière réfléchie par la surface éclairée de la structure absorbante, et triangule les variations de lélévation de la surface éclairée de la structure absorbante
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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