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Verfahren zur Streustrahlenkorrektur eines Röntgenbildes und Röntgeneinrichtung
专利权人:
SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT
发明人:
KLINGENBECK, KLAUS,Klaus Klingenbeck
申请号:
DE102012200150
公开号:
DE102012200150A1
申请日:
2012.01.05
申请国别(地区):
DE
年份:
2013
代理人:
摘要:
Verfahren zur Streustrahlungskorrektur eines mit einem eine Matrix von Pixeln eines aufzunehmenden Röntgenbildes zuordenbaren Detektorelementen (11) aufweisenden Röntgendetektor (7) einer Röntgeneinrichtung (24) aufgenommenen Röntgenbildes, wobei die zur Aufnahme genutzte Röntgenstrahlung so kollimiert wird, dass nur ein insbesondere mittiger erster Anteil (14) der Detektorelemente (11) zur Aufnahme von Bilddaten (2) genutzt wird und ein insbesondere am Rand gelegener zweiter Anteil (15) der Detektorelemente (11) zur Aufnahme von Streustrahlungsdaten (4) genutzt wird, wonach die Streustrahlungsdaten (4) zur Korrektur der Bilddaten (2) verwendet werden.The method involves collimating an X-ray radiation such that a central portion of detector elements of a flat X-ray detector is utilized for receiving an image data (2). Another portion is located at an edge of the detector elements to receive scattered radiation data (4) such that the scattering radiation data corrects the image data. The central portion of the detector elements is surrounded by the latter portion forming a closed edge surface. Scattered radiation correction values (17) are determined by one-dimensional or two-dimensional interpolation of the radiation data. An independent claim is also included for an X-ray device.
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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