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High definition impedance imaging
专利权人:
Alvin Wexler
发明人:
Alvin Wexler,Patrick Adrian OConnor,Rajen Manicon Murugan,Zhong Zheng
申请号:
US12375145
公开号:
US08369941B2
申请日:
2007.07.27
申请国别(地区):
US
年份:
2013
代理人:
摘要:
A method for producing a computationally efficient system that reduces the number of iterations required to generate a conductivity image pattern of a subsurface object, and its attendant conductivity distribution, through a solution to the system of field equations that simultaneously satisfies all of the boundary conditions and conserves internal current flux densities.
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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