The present invention provides a method for evaluating DAR of ADC products that provides advantages over known methods. Specifically, the methods of the present invention can be used in high throughput applications and / or without diluting ADC samples during evaluation.본 발명은 공지 방법들 보다 우수한 이점들을 제공하는 ADC 제품들의 DAR 평가 방법을 제공한다. 구체적으로, 본 발명의 방법들은 높은 처리량 분야에서 및/또는 평가 중에 ADC 샘플들을 희석시키지 않고 사용될 수 있다.