Disclosed is a trigger circuit of an X-ray imaging device having temperature change stability. The trigger circuit of an X-ray imaging device according to the present invention includes a beam detecting element for generating an irradiation response signal having a voltage level corresponding to the intensity of received light； a trigger reference generation block driven to generate a trigger reference signal； and a comparison block for comparing the voltage level of the irradiation response signal with the voltage level of the trigger reference signal to generate a trigger confirmation signal. The voltage level of the trigger reference signal varies depending on the ambient temperature. In the trigger circuit of the X-ray imaging device according to the present invention, the voltage level of the trigger reference signal also increases with the ambient temperature in view of the phenomenon in which the dark current of the photodiode of the beam detecting element increases with the ambient temperature. As a result, according to the trigger circuit of the X-ray imaging device of the present invention, stability against a temperature change is enhanced.온도 변화 안정성을 가지는 엑스선 촬영 장치의 트리거 회로가 게시된다. 본 발명의 엑스선 촬영 장치의 트리거 회로는 수신되는 빛의 세기에 대응하는 전압 레벨을 가지는 조사 응답 신호를 발생하는 광선 감지 소자； 트리거 기준 신호를 발생하도록 구동되는 트리거 기준 발생 블락； 및 상기 조사 응답 신호의 전압 레벨을 상기 트리거 기준 신호의 전압 레벨과 비교하여 트리거 확인 신호를 발생하는 비교 블락을 구비한다. 상기 트리거 기준 신호의 전압 레벨은 주변 온도를 반영하여 가변된다. 본 발명의 엑스선 촬영 장치의 트리거 회로에서는, 광선 감지 소자의 포토 다이오드의 다크 전류가 주변 온도의 상승에 따라 증가하는 현상을 감안하여, 트리거 기준 신호의 전압 레벨도 주변 온도가 상승하면 증가하도록 구현된다. 그 결과, 본 발명의 엑스선 촬영 장치의 트리거 회로에 의하면, 온도 변화에 대한 안정성이 강화된다.
