您的位置: 首页 > 农业专利 > 详情页

TEMPERATURE MEASUREMENT DEVICE AND TEMPERATURE MEASUREMENT METHOD
专利权人:
SEIKO EPSON CORP;セイコーエプソン株式会社
发明人:
IKEDA HIROMI,池田 陽,SHIMIZU KYOKO,清水 興子,SAWATARI SAE,沢渡 彩映,HASHIMOTO DAIKI,橋本 大毅
申请号:
JP2016153366
公开号:
JP2018021833A
申请日:
2016.08.04
申请国别(地区):
JP
年份:
2018
代理人:
摘要:
PROBLEM TO BE SOLVED: To precisely calculate a temperature of a deepest part of a measurement object.SOLUTION: A temperature measurement device includes: a measurement section measuring biological information; and a calculation processing section setting an apparent coefficient of thermal conductivity in calculation processing for calculating a temperature of a deepest part of a measurement object by using the apparent coefficient of thermal conductivity based on a result of measurement by the measurement section, executing the calculation processing, and calculating the temperature of the deepest part.SELECTED DRAWING: Figure 10【課題】測定対象の深部温度を精度よく算出すること。【解決手段】生体情報を測定する測定部と、みかけの熱伝導率を用いて測定対象の深部温度を算出する算出処理における前記みかけの熱伝導率を、前記測定部の測定結果に基づいて設定し、前記算出処理を実行して前記深部温度を算出する演算処理部と、を備えた温度測定装置である。【選択図】図10
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

意 见 箱

匿名:登录

个人用户登录

找回密码

第三方账号登录

忘记密码

个人用户注册

必须为有效邮箱
6~16位数字与字母组合
6~16位数字与字母组合
请输入正确的手机号码

信息补充