Peter Bartl,Christian Hauke,Marcus Radicke,Ludwig Ritschl,Sven-Martin Sutter
申请号：
DE102017200526
公开号：
DE102017200526A1
申请日:
2017.01.13
申请国别(地区):
DE
年份:
2018
代理人:
摘要：
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Einstellen eines Röntgeninterferometers (20) mit folgenden Schritten: Es werden Objektdaten (PD, BD) eines Untersuchungsobjekts (P) erfasst. Auf deren Basis wird eine aufzunehmende Region (R) des Untersuchungsobjekts (P) bestimmt. In Abhängigkeit von der aufzunehmenden Region (R) werden Einstelldaten (ED) ermittelt. Unter deren Verwendung wird das Röntgeninterferometer (20) eingestellt. Dabei wird zumindest ein Teil der Schritte unter Verwendung eines organspezifischen Steuerprotokolls (OP) durchgeführt. Die Erfindung gibt zudem eine Steuereinrichtung, ein Röntgeninterferometer sowie ein Röntgeninterferometriesystem an.The present invention relates to a method for adjusting a x-ray interferometer (20) comprising the steps of: the object data (pd, bd) of an examination subject (p) is detected. On its basis, to be picked up a region (r) of the examination subject (p) is determined. As a function of the region to be received (r) setting data (ed) are determined. Using the same, the x-ray interferometer (20) set. In this case, at least a part of the steps of using an organ-specific control protocol (op) is carried out. The invention provides, in addition, a control device, an x-ray interferometer as well as an x-ray interferometry system to.n="33"
