一种层析成像几何参数的校准方法
- 专利权人:
- 华中科技大学
- 发明人:
- 骆清铭,杨孝全,龚辉,孟远征
- 申请号：
- CN201110402573.3
- 公开号：
- CN102488528B
- 申请日:
- 2011.12.07
- 申请国别(地区):
- CN
- 年份:
- 2013
- 代理人:
- 摘要：
- 本发明提供了一种层析成像几何参数的校准方法，涉及层析成像技术领域。该方法包括以下步骤：采集层析成像中的全角度投影图像，对所述采集到的全角度投影图像分别进行负对数运算，将每个角度的负对数运算后的图像进行叠加，得到叠加图像，利用所述叠加图像建立与几何参数相关联的目标函数，利用单纯形-模拟退火算法对所述目标函数进行全局最小值优化。本发明不需要任何精密的模体就可以实现多个几何参数的标定；由于利用了叠加图像，因此对噪声不敏感，抗噪声能力强；此外，本发明采用的单纯形-模拟退火全局最优化算法，可以避免陷入局部极小值，保证了多个几何参数同时求解的精度与准确度。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
