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Verfahren zur Optimierung von Bildrauschen oder Zeitauflösung in der Zweistrahler-Spiralscan-Computertomographie
专利权人:
Siemens Aktiengesellschaft
发明人:
Herbert, Dr. Bruder,Thomas, Dr. Flohr
申请号:
DE102008058569
公开号:
DE102008058569B4
申请日:
2008.11.21
申请国别(地区):
DE
年份:
2014
代理人:
摘要:
Verfahren zur Optimierung von Bildrauschen oder Zeitauflösung in der Zweistrahler-Spiralscan-Computertomographie umfassend folgende Schritte:– Bereitstellen eines CT-Gerätes mit zumindest einer längs einer Systemachse des CT-Gerätes angeordneten Lagerungsvorrichtung zur Lagerung des Untersuchungsobjektes, zwei koaxial um 90° versetzt, koplanar angeordneten, um die Systemachse (z-Achse) rotierbaren Abtastsystemen, mit jeweils einem Fokus, von dem ein fächerförmiges Strahlenbündel mit einem Fächerwinkel 2·βmaxaussendbar ist, und einem gegenüberliegend angeordneten flächig ausgebildeten Detektorarray mit einer Vielzahl von verteilten Detektorelementen, mit dem Strahlen des Stahlenbündels detektierbar sind, wobei durch die Abtastsysteme Projektionsdaten erzeugbar sind, welche die Schwächung der Strahlen beim Durchgang durch das Untersuchungsobjekt repräsentieren, und wobei die Lagerungsvorrichtung oder die Abtastsysteme entlang der Systemachse verfahrbar sind,– Wählen eines Pitch p mit dem die Abtastsysteme oder die Lagerungsvorrichtung verfahrbar sind, wobeimit:Θ maximaler Rekonstruktionswinkel,βmaxhalber Fächerwinkel, undN Zahl der Detektorzeilen,– Spiral-Abtasten des Untersuchungsobjektes mit dem gewählten Pitch p,– Rekonstruieren eines Bildes aus den Projektionsdaten wobei eine Zeitauflösung Timgmit:für einen Rekonstruktionswinkel Ω derart gewählt wird, dass entweder die Zeitauflösung Timgoder ein Bildrauschen σimgmit:optimiert wird, mit:TrotZeit für eine 2π-Rotation eines Abtastsystems um die Systemachseσ(π/2) Referenzbildrauschen für den Rekonstruktionswinkel Ω = (π/2).A method for the optimization of noise or temporal resolution in the two spotlights spiral-scan computed tomography comprising the steps of:– Providing a ct apparatus with at least one along a longitudinal axis of the ct apparatus support mechanism can be arranged for the mounting of the object to be examined, two coaxially offset by 90 °, coplanar, arranged around the system axis (z-axis) rotatable
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/
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