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半透明性の評価方法
专利权人:
KAO CORP
发明人:
YOSHIDA KENICHIRO,吉田 健一郎
申请号:
JP2012272738
公开号:
JP2014119286A
申请日:
2012.12.13
申请国别(地区):
JP
年份:
2014
代理人:
摘要:
PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a method for evaluating translucency of an object with a higher degree of precision than the conventional method.SOLUTION: Ratios rS,S/IS and rS,L/IL of irradiation light quantity IS,IL for each of a first radiation area and a second radiation area to emission light quantity rS,S,rS,L emitted by each of the first radiation area and the second radiation area are calculated, and translucency of an object is evaluated on the basis of difference of a value of 1-(rS,S/IS)/(rS,L/IL). Emission light quantity rP,S and rP,L at the time when light is irradiated on a reference white board is used as emission light quantity IS,IL. A board which has a reflectance ratio larger than 0.5 and has a region of 0.2 mm or smaller in thickness containing a light receiving surface is used as the reference white board.COPYRIGHT: (C)2014,JPO&INPIT【課題】対象物の半透明性をこれまでの方法よりも一層高い精度で評価できる方法を提供すること。【解決手段】第1の照射領域及び第2の照射領域それぞれへの照射光量IS,ILと、第1の照射領域及び第2の照射領域それぞれから射出される射出光量rS,S,rS,Lとの比であるrS,S/IS及びrS,L/ILを算出し、1-(rS,S/IS)/(rS,L/IL)の値の大小に基づいて、対象の半透明性を評価する。各照射光量IS,ILとして、基準白色板を対象として光を照射したときの射出光量rP,S及びrP,Lを用いる。基準白色板として、反射率が0.5超であり、かつ受光面を含む部位の厚みが0.2mm以下であるものを用いる。【選択図】図1
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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