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測定装置、測定方法、及び、プログラム
专利权人:
日本電気株式会社
发明人:
福島 悠平,篠崎 勉,佐藤 右一,西村 望,深井 敏晶
申请号:
JP2016531174
公开号:
JPWO2016002354A1
申请日:
2015.05.13
申请国别(地区):
JP
年份:
2017
代理人:
摘要:
A housing (100), a housing (100) part provided with openings (102), located in the opening (102) in, constitutes a part of the housing (100), first a transmission member (110) which transmits light of wavelengths, are arranged in the housing (100), the light including the first wavelength emitted, the optical axis is arranged in a direction through the transmission member (110) emitting portion (120), in the housing (100), the optical axis is arranged in a direction through the transmission member (110), the light detector for detecting light of a first wavelength and (140), the first wavelength the reflective portion for reflecting light (200) is moved reflecting portion (200), a first position which does not overlap with the optical axis of the light emitting portion (120), or overlaps with the optical axis of the light emitting portion (120), moving portion to the second position to reflect in the direction of the optical detector the light emitting unit (120) is radiated (140) (2 Measuring apparatus having 1), (10).筐体(100)と、筐体(100)の一部に設けられた開口(102)と、開口(102)内に位置し、筐体(100)の一部を構成しており、第1波長の光を透過する透過部材(110)と、筐体(100)の内部に配置され、第1波長を含む光を放射し、光軸が透過部材(110)を通る向きに配置されている発光部(120)と、筐体(100)の内部に、光軸が透過部材(110)を通る向きに配置され、第1波長の光を検出する光検出部(140)と、第1波長の光を反射する反射部(200)と、反射部(200)を移動させ、発光部(120)の光軸と重ならない第1の位置、又は、発光部(120)の光軸と重なり、発光部(120)が放射した光を光検出部(140)の方向に反射する第2の位置に位置させる移動部(201)と、を有する測定装置(10)。
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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