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校准准直器的方法及执行该方法的用于X射线分析的装置
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专利权人:
IMS吉奥托股份公司
发明人:
S·维奇奥,P·维格诺里,V·萨洛莫尼
申请号:
CN201910036174.6
公开号:
CN110037717A
申请日:
2019.15.01
申请国别(地区):
CN
年份:
2019
代理人:
摘要:
本发明涉及一种用于校准X射线的准直器(112)的方法以及一种用于X射线分析的包括该准直器(112)并且可自动地执行该方法的装置(1)。
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/
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