校准准直器的方法及执行该方法的用于X射线分析的装置

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专利权人:

IMS吉奥托股份公司

发明人:

S·维奇奥,P·维格诺里,V·萨洛莫尼

申请号：

CN201910036174.6

公开号：

CN110037717A

申请日:

2019.15.01

申请国别(地区):

CN

年份:

2019

代理人:

摘要：

本发明涉及一种用于校准X射线的准直器(112)的方法以及一种用于X射线分析的包括该准直器(112)并且可自动地执行该方法的装置(1)。

来源网站：

中国工程科技知识中心

来源网址：

http://www.ckcest.cn/home/