人工假体涂层厚度测定装置
- 专利权人:
- 中国科学院上海硅酸盐研究所
- 发明人:
- 季珩,郑学斌,黄利平
- 申请号：
- CN201220008606.6
- 公开号：
- CN202505523U
- 申请日:
- 2012.01.10
- 申请国别(地区):
- CN
- 年份:
- 2012
- 代理人:
- 摘要：
- 本实用新型涉及一种人工假体涂层厚度测定装置，所述人工假体包括基材及喷涂于所述基材上的生物涂层，该装置包括：底座，人工假体定位于所述底座上；固定于所述底座上的活动支架构件；及固定于所述活动支架构件上的厚度测量构件，通过调节所述活动支架构件，所述厚度测量构件配置为与所述人工假体保持相对固定，所述厚度测量构件包括与所述人工假体的表面相接触的测量头；所述涂层的厚度由在所述人工假体的表面上喷涂涂层前后的所述测量头的相对位移确定。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
