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高集成型分析物检测器件
专利权人:
上海移宇科技股份有限公司
发明人:
杨翠军
申请号:
CN202010646815.2
公开号:
CN113274002A
申请日:
2020.07.07
申请国别(地区):
CN
年份:
2021
代理人:
摘要:
本发明公开了一种高集成型分析物检测器件,包括:底壳;传感器,传感器装配于底壳上,传感器包括信号输出端和检测端,信号输出端设置至少两个第一电连接区;发射器,发射器与底壳互相卡合,发射器设置有至少两个与第一电连接区相对应的第二电连接区;和连接件,连接件设置于第一电连接区和第二电连接区之间,连接件包括至少两个导电区和至少一个绝缘区,相邻两个导电区之间设置有绝缘区,不同第一电连接区或者不同第二电连接区分别与不同导电区电连接。这种设计提高了检测器件内部结构的集成度,进一步缩小检测器件的体积,增强用户体验。
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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