An apparatus and associated method for processing image data supplied by a scan type phase contrast or dark field imaging device (MA). Reduction of beam hardening artifacts in phase contrast and dark field imaging is achieved by a beam curing processing module (MA) for multiple detector readings contributing signals to the same image pixel location or geometry ray in the imaging area of the device (MA) (BHC) beam curing processing operation is applied. In one embodiment, a phantom body (PB) is used to acquire calibration data based on the beam curing process.スキャン方式位相コントラスト又は暗視野画像化装置(MA)により供給される画像データを処理する装置及び関連方法である。位相コントラスト及び暗視野画像化におけるビーム硬化アーティファクトの減少は、装置(MA)の画像化領域の同じ画像ピクセル位置またはジオメトリ光線に信号を寄与する複数の検出器読み取り値に対して、ビーム硬化処理モジュール(BHC)によるビーム硬化処理動作を適用することにより行われる。一実施形態では、ファントムボディ(PB)を用いて、ビーム硬化処理が基づく較正データを取得する。
