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測定装置、ＡＥ測定システム、ＡＥ測定方法及びＡＥ測定プログラム
- 专利权人:
- 国立大学法人埼玉大学;株式会社シンフォディアフィル
- 发明人:
- 蔭山 健介
- 申请号：
- JP20160191944
- 公开号：
- JP2018054502(A)
- 申请日:
- 2016.09.29
- 申请国别(地区):
- 日本
- 年份:
- 2018
- 代理人:
- 摘要：
- 【課題】ＡＥ情報を効率よく圧縮することにより、ＡＥ測定システムの消費電力を抑えることの可能な低コストのＡＥ測定システム等を提供する。【解決手段】現在時刻と前回の送信時刻の差から測定時間を算出し、測定時間を配列データの要素数に対応した測定時間インデックスに変換する測定時間抽出部１２と、信号読み取り部１１が検出したサンプリングデータと閾値とを比較する信号測定部１４と、サンプリングデータが閾値より大きい場合、測定時間インデックスから定められる信号波形記録長の範囲内で、信号波形データを予め定めた取込回数だけ読み取る信号パラメータ抽出部１５と、信号パラメータ抽出部１５が読み取った信号波形データと、信号レベル、ノイズレベル及びＳＮ比レベルのそれぞれの基準値を比較してＡＥ信号か否か判定す
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
- 来源网址：
- http://www.ckcest.cn/home/
