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뇌 전체부위로 측정부위 조절이 용이한 2채널 뇌파 측정 장치
专利权人:
KOREA BNS EDUCATION CULTURE INSTITUTE
发明人:
LEE, HYEOB EUIKR,이협의
申请号:
KR1020170052814
公开号:
KR1020180009689A
申请日:
2017.04.25
申请国别(地区):
KR
年份:
2018
代理人:
摘要:
The present invention relates to a brain wave measuring apparatus with 2-channels for easy adjustment of a measuring position to the entire brain part to freely adjust a position where a brain wave sensing terminal is installed. Specifically, the brain wave of the frontal lobe, as well as the parietal lobe, temporal and occipital lobe, can be measured. It is possible to measure brain waves in various parts by freely changing and using the position of a brain wave measurement terminal for brain wave measurement. Moreover, it is easy to carry because of its small size and easy to use by an ordinary user. The brain wave measuring apparatus includes a head fixing band, an auxiliary band, and a brain wave signal processor.COPYRIGHT KIPO 2018본 발명은 뇌파감지단자가 설치되는 위치를 자유롭게 조절할 수 있어 뇌파를 머리 전체에서 측정할 수 있는 측정부위 조절이 용이한 2채널 뇌파 측정 장치에 관한 것으로, 상세하게는 전두엽은 물론 두정엽이나 측두엽 및 후두엽의 뇌파를 측정할 수 있게 하되, 뇌파 측정을 위한 뇌파 측정 단자의 위치를 자유롭게 변경하여 사용할 수 있게 함에 따라 다양한 부위의 뇌파를 측정할 수 있음에도 불구하고 크기가 작아 휴대가 간편하고, 일반 사용자도 쉽게 사용할 수 있는 측정부위 조절이 용이한 2채널 뇌파 측정 장치에 관한 것이다.
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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