主观式验光装置
- 专利权人:
- 尼德克株式会社
- 发明人:
- 柴田一徳,铃木陵司,平山幸人,神田英典
- 申请号：
- CN201711250178.1
- 公开号：
- CN108209855A
- 申请日:
- 2017.12.01
- 申请国别(地区):
- CN
- 年份:
- 2018
- 代理人:
- 摘要：
- 本发明提供一种主观式验光装置,其能够容易地进行被检眼与眼屈光度测定单元的对位。主观式验光装置具备:投影光学系统,具有射出视标光束的视标呈现部,并将从视标呈现部射出的视标光束朝向被检眼投影;壳体,收纳投影光学系统;及呈现窗,用于通过使来自投影光学系统的视标光束透射,并从壳体的内部向壳体的外部射出视标光束,而将所述视标光束朝向被检眼投影,其中,所述主观式验光装置具备观察单元,该观察单元用于经由呈现窗观察眼屈光度测定单元与被检眼的位置关系,该眼屈光度测定单元改变从壳体的内部向壳体的外部射出的视标光束的光学特性。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
