The present invention relates to an X-ray apparatus having a rotating or plane moving structure, and more particularly, to an X-ray apparatus capable of rotating or slanting an object to be examined, Structure x-ray apparatus. An X-ray apparatus having a rotating and plane moving structure includes an X-ray tube for irradiating an X-ray to be inspected and a detector for detecting X-rays transmitted through the object to be inspected, A rotational position unit； And an inspection stage rotated by the rotation position unit, wherein the inspection stage has a structure movable along a plane.본 발명은 회전 또는 평면 이동 구조의 엑스레이 장치에 관한 것이고, 구체적으로 검사 대상을 회전 또는 경사 이동을 시켜 다양한 방향으로 엑스레이를 조사하는 것에 의하여 임의의 형태의 이미지의 획득이 가능하도록 하는 회전 또는 평면 이동 구조의 엑스레이 장치에 관한 것이다. 회전 및 평면 이동 구조의 엑스레이 장치는 검사 대상으로 엑스레이를 조사하는 엑스레이 튜브 및 검사 대상을 투과한 엑스레이를 탐지하는 디텍터를 포함하는 엑스레이 장치에 있어서, 중심을 기준으로 원주를 따라 미리 결정된 각도로 회전 가능한 회전 위치 유닛； 및 회전 위치 유닛에 의하여 회전이 되는 검사 스테이지를 포함하고, 상기 검사 스테이지는 평면을 따라 이동 가능한 구조를 가진다.
