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INTERFEROMETRIC DYNAMIC-GRATING IMAGING METHOD, DIFFRACTION GRATING AND IMAGING APPARATUS
专利权人:
TEKNOLOGIAN TUTKIMUSKESKUS VTT
发明人:
GORELICK, Sergey
申请号:
FIFI2013/051021
公开号:
WO2014/068184A1
申请日:
2013.10.28
申请国别(地区):
WO
年份:
2014
代理人:
摘要:
The present invention relates to a method for producing an image of a target using radiation and a diffraction grating and apparatus for x-ray imaging. The method comprises directing a beam of radiation to the target to produce a modified beam through interaction with the target,directing the modified beam to an diffraction grating to produce an interference pattern,detecting the interference pattern using a detector,and forming an image of the target using the interference pattern measured. According to the invention, the diffraction grating is modified n the plane of the grating during the imaging so that at least two interference patterns are detected using the detector different configurations of the diffraction grating. Further, the image of the target using the at least two interference patterns measured. The invention provides a simple configuration, less radiation exposure and/or better image quality then conventional imaging methods.La présente invention concerne un procédé de production dimage dune cible à laide dun rayonnement et un réseau de diffraction et un appareil dimagerie à rayons X. Le procédé comprend la direction dun faisceau de rayonnement vers la cible pour produire un faisceau modifié par lintermédiaire dune interaction avec la cible, la direction du faisceau modifié vers un réseau de diffraction pour produire un motif dinterférence, la détection du motif dinterférence à laide dun détecteur et la formation dune image de la cible à laide du motif dinterférence mesuré. Selon la présente invention, le réseau de diffraction est modifié dans le plan du réseau durant limagerie de telle sorte quau moins deux motifs dinterférence sont détectés à laide des différentes configurations de détecteur du réseau de diffraction. En outre, limage de la cible à laide des au moins deux motifs dinterférence est mesurée. La présente invention porte sur une configuration simple, une exposition à un rayonnement moindre et/ou une meilleure qualité dimage que des proc
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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