Various methods and systems are provided for x-ray field alignment. In one embodiment, a system includes a plurality of scintillation detectors distributed about edges of a light field associated with an x-ray field, a detector interface in communication with the plurality of scintillation detectors, and a computing device in communication with the detector interface. The detector interface configured to simultaneously obtain exposure data for the plurality of scintillation detectors and the computing device configured to determine an alignment distance between the light field and the x-ray field based at least in part upon the exposure data. In another embodiment, a method includes obtaining exposure data from a plurality of scintillation detectors distributed about edges of a light field during irradiation by an x-ray field and determining an alignment distance between the light field and the x-ray field based at least in part upon the exposure data.Linvention porte sur différents procédés et sur différents systèmes pour lalignement de champs de rayons X. Dans un mode de réalisation, un système comprend une pluralité de détecteurs de scintillation répartis autour de bords dun champ de lumière associé à un champ de rayons X, une interface de détecteur en communication avec la pluralité de détecteurs de scintillation, et un dispositif informatique en communication avec linterface de détecteur. Linterface de détecteur est configurée de façon à obtenir simultanément des données dexposition pour la pluralité de détecteurs de scintillation, et le dispositif informatique est configuré de façon à déterminer une distance dalignement entre le champ de lumière et le champ de rayons X sur la base, au moins en partie, des données dexposition. Un autre mode de réalisation de linvention porte sur un procédé, qui met en œuvre lobtention de données dexposition à partir dune pluralité de détecteurs de scintillation répartis autour de bords dun champ de lumière pendant lirradiation
