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一种X荧光光谱镀层分析仪的装配结构
专利权人:
江苏天瑞仪器股份有限公司
发明人:
黄清华
申请号:
CN200920234681.2
公开号:
CN201540265U
申请日:
2009.08.12
申请国别(地区):
中国
年份:
2010
代理人:
楼高潮
摘要:
本实用新型涉及一种X荧光光谱镀层分析仪的装配结构,包括机座、固定座,机座上设有卡钩,固定座上设有套孔,固定座通过套孔套设于卡钩以实现机座与固定座的固定,固定座上设有两隔板将固定座分隔成三个隔室,电源系统、光源系统以及高压系统被分别设在这三个隔室内,隔板上设有固定孔。整个装配结构简单;方便仪器的组装与拆卸;提高了售后服务维护的效率;减轻了仪器的整机质量。其适用于环境保护、临床医学、农业、地质冶金、制药行业、石化等行业的X荧光光谱镀层分析仪之用。
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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