一种可去除稻田或制种田落粒谷苗及杂草的种植方法
- 专利权人:
- 湖南杂交水稻研究中心
- 发明人:
- 赵炳然,韶也,毛毕刚,彭彦,胡远益,唐丽,李曜魁,张丹,袁志成,罗武中,袁隆平
- 申请号：
- CN201711157798.0
- 公开号：
- CN107926552A
- 申请日:
- 2017.11.20
- 申请国别(地区):
- 中国
- 年份:
- 2018
- 代理人:
- 杨斌
- 摘要：
- 本发明公开了一种可去除稻田或制种田落粒谷苗及杂草的种植方法，利用现有除草剂抗性基因资源与基因定点编辑的最新技术，通过在本茬种植既含有显性遗传的X除草剂抗性基因又含有隐性遗传的纯合苯达松敏感基因的水稻品种或品系，在下一茬种植非苯达松敏感的水稻品种或品系的种植方式，选择相对应类型的除草剂进行喷施，有效解决了水稻耕作模式发展过程中田间落粒谷苗及杂草对水稻整体产量与品质影响和杂交水稻制种田的落粒谷（杂谷）苗串粉影响杂交种子纯度等问题。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
