您的位置: 首页 > 农业专利 > 详情页

Verfahren und Vorrichtung zum Auswerten von Röntgenspektren
专利权人:
Technische Universität Dresden
发明人:
Dietmar Wünsche,Jürgen Bauch,Frank Henschel
申请号:
DE102013114497
公开号:
DE102013114497A1
申请日:
2013.12.19
申请国别(地区):
DE
年份:
2015
代理人:
摘要:
Es wird ein Verfahren (100) zum Auswerten einer mittels Röntgenstrahlung erzeugten Vielzahl von Röntgenspektren eines Körpers bereitgestellt, wobei das Verfahren aufweist:Durchstrahlen eines Körpers mit Röntgenstrahlen (110) Messen einer Vielzahl von Röntgenspektren von durch den Körper hindurchgetretenen Röntgenstrahlen mittels eines Flächendetektors, der eine Vielzahl von nebeneinander in einem Array angeordneten energiedispersiven Röntgendetektoren aufweist (120) Speichern der Vielzahl von Röntgenspektren (130) Ermitteln von mindestens einem jeweiligen Intensitätswert aus einem jeweiligen gemessenen Röntgenspektrum für einen Energiewert für die Vielzahl gemessener Röntgenspektren (140) und Ermitteln mindestens eines jeweiligen Schwächungskoeffizienten unter Verwendung des jeweiligen Intensitätswerts eines jeden Röntgenspektrums der Vielzahl gemessener Röntgenspektren oder Ermitteln mindestens einer Beugungskennlinie unter Verwendung der Intensitätswerte für die Vielzahl gemessener Röntgenspektren (150).It is a method (100) for evaluating a by means of x-ray radiation generated plurality of x-ray spectra of a body is provided, which process comprises:A body to be irradiated with x-rays (110) measuring a plurality of x-ray spectra of x-rays passing through the body by means of a surfaces detector, which a plurality of adjacently arranged in an array has energy-dispersive x-ray detectors (120) storing the plurality of x-ray spectra (130) determining at least one respective intensity value from a respective measured x-ray spectrum for an energy value for the plurality of measured x-ray spectra (140) and determining at least one respective attenuation coefficients with the use of the respective by intensity of each of the x-ray spectrum of the plurality of measured x-ray spectra or determine at least one diffraction characteristic line with the use of the intensity values for the plurality of measured x-ray spectra (150).
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/
相关专利

意 见 箱

匿名:登录

个人用户登录

找回密码

第三方账号登录

忘记密码

个人用户注册

必须为有效邮箱
6~16位数字与字母组合
6~16位数字与字母组合
请输入正确的手机号码

信息补充