颗粒计数设备、系统和方法
- 专利权人:
- 精密种植有限责任公司
- 发明人:
- C·普拉特纳,P·斯坦纳
- 申请号：
- CN202080012106.7
- 公开号：
- CN113366298A
- 申请日:
- 2020.03.20
- 申请国别(地区):
- CN
- 年份:
- 2021
- 代理人:
- 摘要：
- 在一个实施例中，通过第一LED发射器阵列跨通道产生第一光平面。对应的光电二极管接收器阵列检测通过构成第一光平面的第一数量的光通道的颗粒。在第二实施例中，通过第二LED发射器阵列，与第一光平面成90°，并且纵向偏离第一光平面地跨通道产生第二光平面。对应的光电二极管接收器阵列检测通过构成第二光平面的第二数量的光通道的颗粒。第二光平面能够识别在通过第一光平面时可能未被检测到的第三维度的颗粒。由各个光电二极管产生的原始输出信号被归一化、分析并表征，以将通过光平面的颗粒区分为单个颗粒或将被单独计数的重叠颗粒组。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
