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분석 용구 및 그 제조 방법
专利权人:
发明人:
후지이 토모히로,쿠사카 야스히데
申请号:
KR1020107011818
公开号:
KR1014503730000B1
申请日:
2008.10.31
申请国别(地区):
KR
年份:
2014
代理人:
摘要:
The present invention , is formed in the substrate 10, the substrate 10 , and the working electrode (14A) a first electrode (14) and including , formed in the substrate 10 , and the counter electrode (15A) including the second electrode 15, the contact area with the sample in the working electrode (14A) relates to an analysis tool having a first regulatory element 11 for regulation . The analysis tool is , at least in one of the working electrode (14A) and the counter electrode (15A), and a second regulating element for regulating the effective area to perform the electron exchange (18, 19).본 발명은, 기판(10)과, 상기 기판(10)에 형성 되고, 또한 작용극(14A)을 포함한 제1 전극(14)과, 상기 기판(10)에 형성 되고, 또한 대극(15A)을 포함한 제2 전극(15)과, 작용극(14A)에서의 시료와의 접촉 면적을 규제하기 위한 제1 규제 요소(11)를 구비한 분석 용구에 관한 것이다. 상기 분석 용구는, 상기 작용극(14A) 및 상기 대극(15A) 중 적어도 하나에서, 전자 수수를 실시하는 유효 면적을 규제하기 위한 제2 규제 요소(18, 19)를 구비하고 있다.
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/
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