An X-ray imaging apparatus includes: an X-ray source (58) including an electron source (4) and a target, the target having a plurality of projections, each having an emitting surface (14a, 14b) a diffraction grating (62) configured to diffract X rays emitted from the X-ray source and a detector (66) configured to detect the X rays diffracted by the diffraction grating. Electron beams (12) output from the electron source are incident on the emitting surfaces so that X rays are emitted from the emitting surfaces and are output to the diffraction grating. The X rays emitted from the emitting surfaces are diffracted by the diffraction grating so as to form a plurality of interference patterns. The projections are arranged such that bright portions of the interference patterns overlap each other and such that dark portions thereof overlap each other. Distances from the emitting surfaces to the diffraction grating are equal to each other.Linvention concerne un appareil dimagerie à rayons X comprenant : une source de rayons X (58) comprenant une source délectrons (4) et une cible, la cible possédant plusieurs protubérances ayant chacune une surface démission (14a, 14b) un réseau de diffraction (62) conçu pour diffracter les rayons X émis par la source de rayons X et un détecteur (66) conçu pour détecter les rayons X diffractés par le réseau de diffraction. Des faisceaux délectrons (12) émis par la source délectrons sont incidents sur les surfaces démission de sorte que les rayons X sont émis depuis les surfaces démission et sont envoyés vers le réseau de diffraction. Les rayons X émis par les surfaces démission sont diffractés par le réseau de diffraction de manière à former plusieurs motifs dinterférences. Les protubérances sont disposées de sorte que les parties brillantes des motifs dinterférences se chevauchent les unes les autres et de sorte que leurs parties sombres se chevauchent les unes les autres. Les distances entre les surfaces démission et le réseau de diffr
