用于跟踪磁场中物体的畸变校正
- 专利权人:
- 阿森松技术公司
- 发明人:
- W·S·阿舍
- 申请号：
- CN202010254574.7
- 公开号：
- CN111796667A
- 申请日:
- 2020.04.02
- 申请国别(地区):
- CN
- 年份:
- 2020
- 代理人:
- 摘要：
- 系统被配置为通过在磁场中的第一位置处测量针对磁场的特性的第一值来对磁场建模。该系统在磁场中的第二位置处测量针对磁场的特性的第二值。该系统确定第一位置与第二位置之间的距离。该系统基于距离、针对一个或多个特性中的每一个的第一值以及针对一个或多个特性中的每一个的第二值中的每一个，估计磁场在磁场中近似第二位置处的畸变分量。该系统输出至少磁场的一个区域的模型。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
