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Method and device for the sequential recording of interferometric depth-sectional images at different depths, in particular for the analysis of the eye
专利权人:
Heidelberg Engineering GmbH
发明人:
Ralf Engelhardt,Gerit Dröge,Björn Martensen
申请号:
DE102012002012
公开号:
DE102012002012A1
申请日:
2012.02.03
申请国别(地区):
DE
年份:
2012
代理人:
摘要:
Die Erfindung bezieht sich auf ein Verfahren für die sequenzielle Aufnahme von interferometrischen Schnittbildern in verschiedenen Tiefen, insbesondere zur Analyse eines Auges, wobei mittels eines Interferometers (1), welches einen optischen Referenzweg (9) und einen optischen Probenweg (10) enthält, ein Probenstrahl (14) einen Messbereich (3) einer Probe (2), insbesondere des Auges, zur Erzeugung eines Tiefenschnittbilds abtastet. Ferner bezieht sich die Erfindung auf eine Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens. Es soll die Aufgabe gelöst werden, das Verfahren ebenso wie die Vorrichtung dahingehend weiterzubilden, dass die optischen und geometrischen Wege in einem Probenarm und/oder Referenzarm des Interferometers schnell zwischen zwei oder mehr Positionen umgeschaltet werden können. Zur Lösung wird vorgeschlagen, dass die Weglänge des Probenstrahls (14) und/oder des Referenzstrahls (15) mittels einer Weglängenschalteinheit (16) verändert wird und Tiefenschnittbilder in wenigstens zwei unterschiedlichen Tiefen der Probe (2) erzeugt werden und die Veränderung der Weglänge in einer Schalteinheit durch Umlenken der Strahlengänge auf unterschiedliche geometrische Wege erfolgt.The invention relates to a method for the sequential recording of interferometric sectional images at different depths, in particular for the analysis of an eye (14) scans a measuring area (3) of a sample (2), in particular of the eye, in order to generate a deep section image. The invention further relates to an apparatus for performing the method. The object is to further develop the method and the device in such a way that the optical and geometric paths in a sample arm and / or reference arm of the interferometer can be quickly switched between two or more positions. To solve the problem, it is proposed that the path length of the sample beam (14) and / or the reference beam (15) be changed by means of a path length switching unit (16) and depth section images are generated in at leas
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/
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