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DISPOSITIF D'IMAGERIE À RAYONS X
专利权人:
LTD.;주식회사 바텍;VATECH CO.;VATECH CO., LTD.;(주) 바텍이우홀딩스;VATECH EWOO HOLDINGS CO., LTD.
发明人:
KIM, Tae Woo,김태우,CHOI, Sung Il,최성일
申请号:
KRKR2015/001276
公开号:
WO2015/119466A1
申请日:
2015.02.09
申请国别(地区):
KR
年份:
2015
代理人:
摘要:
The present invention relates to an X-ray imaging device and, particularly, to an X-ray imaging device which is formed by pixelating a plurality of X-ray emitting elements for respectively emitting X-rays toward an object to be photographed and a plurality of X-ray detecting elements for respectively detecting X-rays passing through the object to be photographed, on the same or different flat surfaces or curved surfaces in a matrix.La présente invention concerne un dispositif d'imagerie à rayons X et, en particulier, un dispositif d'imagerie à rayons X qui est formé par pixellisation d'une pluralité d'éléments d'émission de rayons X pour respectivement émettre des rayons X vers un objet à photographier, et d'une pluralité d'éléments de détection de rayons X pour respectivement détecter les rayons X passant à travers l'objet à photographier, sur des surfaces plates ou des surfaces incurvées identiques ou différentes dans une matrice.본 발명은 엑스선 촬영장치에 관한 것으로, 구체적으로는 촬영대상을 향해 각각 엑스선을 방출하는 복수의 엑스선 방출소자와 촬영대상을 투과한 엑스선을 각각 검출하는 복수의 엑스선 검출소자를 동일 또는 이종의 평면 또는 곡면 상에 형렬로 픽셀화하여 구성한 엑스선 촬영장치에 관한 것이다.
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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