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测试元件分析系统
- 专利权人:
- 豪夫迈·罗氏有限公司
- 发明人:
- K.黑贝施特赖特,S.萨克,K.托梅,W.海特
- 申请号：
- CN201780015876.5
- 公开号：
- CN108713139A
- 申请日:
- 2017.03.07
- 申请国别(地区):
- CN
- 年份:
- 2018
- 代理人:
- 摘要：
- 公开了用于样品(118)(特别地体液)的分析检查的测试元件分析系统(110)。该测试元件分析系统(118)包括具有用于定位包含样品(118)的测试元件(116)的测试元件支架(114)的评估设备(112)和用于测量测试元件(116)的测量区带(122)中的变化的测量设备(134),该变化是分析物的特性。该测试元件支架(114)包含具有接触表面(133)的接触元件(132),该接触表面(133)允许测试元件(116)的接触表面(117)和测试元件支架(114)的接触表面(132)之间的电气接触。该测试元件支架(114)的接触元件(132)的接触表面(133)被提供有含有金属钌(146)的导电表面(145)。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
- 来源网址：
- http://www.ckcest.cn/home/
