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Verfahren und Vorrichtung zur Dejustagekorrektur für Bildgebungsverfahren
专利权人:
Siemens Aktiengesellschaft
发明人:
Frank Dennerlein,Nicole Maaß
申请号:
DE102013200329
公开号:
DE102013200329A1
申请日:
2013.01.11
申请国别(地区):
DE
年份:
2014
代理人:
摘要:
Die Erfindung betrifft ein Verfahren und eine Vorrichtung, insbesondere zur Dejustagekorrektur für Bildgebungsverfahren. Erfindungsgemäß werden– mittels eines einander zugeordneten Quelle-Detektor-Paars entlang einer von dem Paar durchlaufenen Trajektorie eine Vielzahl von Aufnahmen eines Objektes gemacht,– eine im 3D Radonraum dieser Aufnahmen bestehende Redundanzen verwendende Kostenfunktion gebildet, wobeia) zwei Punkte auf der von der Quelle durchlaufenen Trajektorie ausgewählt werden,b) eine Ebene verwendet wird, die eine durch die beiden Punkte definierte Gerade enthält,c) die Schnitte zwischen der Ebene und der Detektoroberfläche für die durch die Punkte gegebenen beiden Quellenpositionen bestimmt werden, undd) durch die Schnitte erhaltene Parameter für die Bildung der Kostenfunktion verwendet werden,– mittels Suche nach einem Extremum der Kostenfunktion zumindest eine Korrekturinformationen für einen für die Aufnahmen relevanten Geometrieparameter ermittelt wird, und– diese Korrektur für eine Bildrekonstruktion aus der Vielzahl der Aufnahmen verwendet wird.Die Erfindung erlaubt im Gegensatz zu vergleichbaren herkömmlichen Methoden eine Parameteroptimierung auf der Basis von Trajektorien ohne redundanten Strahlen.The present invention relates to a method and a device, in particular for misalignment correction for an image forming method. According to the invention,– by means of a source-detector-paars associated with each other along a trajectory is traversed by the pair of a plurality of images of an object made,– a in the 3d radon space of these mountings existing redundancies be used in the cost function is formed.a) two points on the trajectory is traversed by the source are selected,b) a plane is used, which is a straight line defined by the two points contains,c) the cuts between the plane and the detector surface by the points for the given two source positions are located are determined, andd) obtained by the cuts parameters for the formation of the c
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/
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