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特性計測装置及び特性計測方法
专利权人:
SEIKO EPSON CORP
发明人:
YAMADA HIDEAKI,山田 英明
申请号:
JP2012181515
公开号:
JP2014038060A
申请日:
2012.08.20
申请国别(地区):
JP
年份:
2014
代理人:
摘要:
PROBLEM TO BE SOLVED: To propose a device and the like that allows characteristics of a body to be measured to be easily measured.SOLUTION: In a characteristics measurement device 1, a signal source 11 generates a predetermined reference AC signal S0, and a phase shift section 13 generates an application AC signal S1 having a given phase difference from the reference AC signal S0 on the basis of the reference AC signal S0. A measuring probe 30 applies the application AC signal S1 to a body to be measured and receives a response signal S2 corresponding to the application AC signal S1. A multiplication section 50 detects the response signal S2 on the basis of the reference AC signal S0. A phase difference control section 110 controls the phase shift section 13 and causes the phase shift section 13 to convert the phase difference in a time division manner. A characteristics measurement section 130 measures characteristics of the body to be measured by using a difference between first detection results by the multiplication section 50 when the phase difference is a first phase difference, not less than 0 degrees and not greater than 360 degrees, and second detection results when the phase difference is a second phase difference different from the first phase difference by 180 degrees.COPYRIGHT: (C)2014,JPO&INPIT【課題】被測定体の特性を簡易に計測することを可能にする新しい装置等の提案。【解決手段】特性計測装置1において、信号源11は、所定の基準交流信号S0を生成し、移相部13は、基準交流信号S0に基づいて当該基準交流信号S0と所与の位相差を有する印加交流信号S1を生成する。測定用プローブ30は、被測定体に印加交流信号S1を印加し、当該印加交流信号S1に対応する応答信号S2を受信する。乗算部50は、基準交流信号S0に基づいて応答信号S2を検波する。位相差制御部110は、移相部13を制御して位相差を時分割に変更させ、特性計測部130は、位相差が第1の位相差(0度以上360度以下)の場合の乗算部50による第1の検波結果と、第1の位相差と180度異なる第2の位相差の場合の第2の検波結果との差を用いて、被測定体の特性を計測する。【選択図】図1
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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