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信号分析装置、信号分析方法及びコンピュータプログラム
- 专利权人:
- 国立大学法人京都大学;株式会社堀場製作所
- 发明人:
- 田中 利幸,大久保 潤,万木 利和,澤 弘義,佐藤 世智
- 申请号：
- JP20160215730
- 公开号：
- JP2017032591(A)
- 申请日:
- 2016.11.03
- 申请国别(地区):
- 日本
- 年份:
- 2017
- 代理人:
- 摘要：
- 【課題】使用者の主観を排した分析を行うとともに、分析の性能の調整が可能である信号分析装置、信号分析方法及びコンピュータプログラムを提供する。【解決手段】信号分析装置１は、ＥＤＸ装置等の測定装置３で測定した二次元座標上のスペクトル分布から、複数の特定信号の強度分布を生成し、ｎ個の特定信号の強度の組み合わせで定義されるｎ次元空間上のｎ次元座標点をＥＭアルゴリズムにより複数のクラスタに分類する。また信号分析装置１は、各クラスタに含まれるｎ次元座標点に対応する二次元座標上の点を特定することにより、夫々に形状が異なるスペクトルの分布が個々に生成される。形状が異なるスペクトルの分布は、夫々の形状のスペクトルを発生させる物質成分の分布を表す。ＥＭアルゴリズムにより使用者の主観を排した分析
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
- 来源网址：
- http://www.ckcest.cn/home/
