您的位置: 首页 > 农业专利 > 详情页

CT设备的几何参数标定件及标定方法
专利权人:
NUCTECH COMPANY LIMITED;同方威视技术股份有限公司;TSINGHUA UNIVERSITY;清华大学
发明人:
CHEN, Zhiqiang,陈志强,ZHANG, Li,张丽,ZHAO, Zhenhua,赵振华,SUN, Yunda,孙运达,JIN, Xin,金鑫,LIANG, Wuyang,梁午阳
申请号:
CNCN2020/073219
公开号:
WO2020/192265A1
申请日:
2020.01.20
申请国别(地区):
CN
年份:
2020
代理人:
摘要:
A geometric parameter calibration piece for a CT device The geometric parameter calibration piece comprises at least one calibration unit (10), each calibration unit (10) comprises multiple calibration wires (2), and the multiple calibration wires (2) are regularly arranged in the same plane. The geometric parameter calibration piece is easy to machine, and can calibrate the geometric parameters of a CT device. Further disclosed is a corresponding calibration method, and it is simple and easy to implement a calibration operation.Pièce d'étalonnage de paramètre géométrique pour un dispositif de tomodensitométrie, la pièce d'étalonnage de paramètre géométrique comprenant au moins une unité d'étalonnage (10), chaque unité d'étalonnage (10) comprenant de multiples fils d'étalonnage (2), et les multiples fils d'étalonnage (2) étant disposés de manière régulière dans le même plan. La pièce d'étalonnage de paramètre géométrique est facile à usiner, et peut étalonner les paramètres géométriques d'un dispositif de tomodensitométrie. L'invention concerne en outre un procédé d'étalonnage correspondant, et il est simple de mettre en oeuvre une opération d'étalonnage.一种CT设备的几何参数标定件,该几何参数标定件包括至少一个标定单元(10),每个标定单元(10)均包括多根标定丝(2),多根标定丝(2)在同一平面内呈规则排布。该几何参数标定件易于加工,能够标定CT设备的几何参数,还公开了相应的标定方法,标定操作简单易实施。
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

意 见 箱

匿名:登录

个人用户登录

找回密码

第三方账号登录

忘记密码

个人用户注册

必须为有效邮箱
6~16位数字与字母组合
6~16位数字与字母组合
请输入正确的手机号码

信息补充