确定热控涂层空间辐射环境效应试验总注量的方法
- 专利权人:
- 北京卫星环境工程研究所
- 发明人:
- 刘宇明,赵春晴,丁义刚,杨晓宁,姜利祥,沈自才,刘向鹏,李蔓
- 申请号：
- CN201410637335.4
- 公开号：
- CN104374688A
- 申请日:
- 2014.11.05
- 申请国别(地区):
- 中国
- 年份:
- 2015
- 代理人:
- 摘要：
- 本发明公开了一种确定热控涂层空间辐射环境效应试验总注量的方法，该方法根据热控涂层太阳吸收率在轨和地面试验退化等效的原则得到空间连续能谱辐射粒子的束流密度换算为某一能量下辐射粒子束流密度时的等效公式，同时开展两组带电粒子辐照试验，根据热控涂层性能退化数据与辐照时间的数据进行的曲线拟合可确定等效束流密度公式中的参数，进而确定地面模拟试验总注量。与现有技术相比，本发明的方法可以在地面模拟试验设备中采用单一能量电子或质子模拟轨道空间电子或质子对热控材料的损伤作用，实际可操作性强。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
